超聲波探傷中，當工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)，一般采用測長(cháng)法來(lái)確定缺陷的長(cháng)度

超聲波探傷中，當工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)，一般采用測長(cháng)法來(lái)確定缺陷的長(cháng)度
        測長(cháng)法是根據缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來(lái)確定缺陷的尺寸。按規定的方法測定的缺陷長(cháng)度稱(chēng)為缺陷的指示長(cháng)度。由于實(shí)際工件中缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)等都會(huì )影響缺陷回波高度，因此缺陷的指示長(cháng)度總是小于或者等于缺陷的實(shí)際長(cháng)度。
        根據測定缺陷長(cháng)度時(shí)的靈敏度基準不同將測長(cháng)法分為相對靈敏度法、**靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。
1、相對靈敏度測長(cháng)法
        相對靈敏度測長(cháng)法是以缺陷*高回波為相對基準、沿缺陷的長(cháng)度方向移動(dòng)探頭，降低一定的dB值來(lái)測定缺陷的長(cháng)度。降低的dB值有3dB、6dB、12dB、20dB等幾種。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。
（1）6dB法（半波高度法）：由于波高降低6dB后正好為原來(lái)的一半，因此6dB法又稱(chēng)半波高度法。
        半波高度法的具體做法是：移動(dòng)探頭找到缺陷的*大反射波（不能達到飽和）然后沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，當缺陷波高降低一半時(shí)，探頭中心線(xiàn)之間距離就是缺陷的指示長(cháng)度。
        6dB法的具體做法是：移動(dòng)探頭找到缺陷的*大反射波后，調節衰減器，使缺陷波高降至基準波高。然后再用衰減器將儀器靈敏度提高6dB，沿缺陷方向移動(dòng)探頭，當缺陷波高降至基準波高時(shí)，探頭中心線(xiàn)之間距離就是缺陷的指示長(cháng)度，如（圖一）所示。
 
圖一、半波高度法(6dB法)

        半波高度法(6dB法)是用來(lái)對缺陷測長(cháng)較常用的一種方法。適用于測長(cháng)掃查過(guò)程中缺陷波只有一個(gè)高點(diǎn)的情況。

（2）端點(diǎn)6dB法（端點(diǎn)半波高度法）：當缺陷各部分反射波高有很大變化時(shí)，測長(cháng)采用端點(diǎn)6dB法。

        端點(diǎn)6dB法測長(cháng)的具體做法是：當發(fā)現缺陷后，探頭沿著(zhù)缺陷方向左右移動(dòng)，找到缺陷兩端的*大反射波，分別以這兩個(gè)端點(diǎn)反射波高為基準，繼續向左、向右移動(dòng)探頭，當端點(diǎn)反射波高降低一半時(shí)（或

6dB時(shí)），探頭中心線(xiàn)之間的距離即為缺陷的指示長(cháng)度，如（圖二）所示。
 
圖二、端點(diǎn)6dB法測長(cháng)

        這種方法適用于測長(cháng)掃查過(guò)程中缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。
        半波高度法和端點(diǎn)6dB法都屬于相對靈敏度法，因為它們是以被測缺陷本身的*大反射波或以缺陷本身兩端*大反射波為基準來(lái)測定缺陷長(cháng)度的。

2、**靈敏度測長(cháng)法

        **靈敏度測長(cháng)法是在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷長(cháng)度方向平行移動(dòng),當缺陷波高降到規定位置時(shí)，如（圖三）所示B線(xiàn)，探頭移動(dòng)的距離，即為缺陷的指示長(cháng)度。
 
 圖三、**靈敏度測長(cháng)法

        **靈敏度測長(cháng)法測得的缺陷指示長(cháng)度與測長(cháng)靈敏度有關(guān)。測長(cháng)靈敏度高，缺陷長(cháng)度大。在自動(dòng)探傷中常用**靈敏度法測長(cháng)。

3、端點(diǎn)峰值法

        探頭在測長(cháng)掃查過(guò)程中，如發(fā)現缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則可以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(cháng)度來(lái)確定為缺陷指示長(cháng)度，如（圖四）所示。這種方法稱(chēng)為端點(diǎn)峰值法。

 

圖四、端點(diǎn)峰值測長(cháng)法
        端點(diǎn)峰值法測得的缺陷長(cháng)度比端點(diǎn)6dB法測得的指示長(cháng)度要小一些。端點(diǎn)峰值法只適用于測長(cháng)掃查過(guò)程中，缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。