文章詳情
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
日期:2024-07-31 02:39
瀏覽次數:798
摘要:
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
超聲相控陣系統可被用于幾乎任何在傳統意義上可以使用常規超聲探傷儀的檢測應用中。焊縫檢測和裂縫探測為兩項*重要的應用,因為在包括航空航天、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應、輸運管線(xiàn)建造與維護、結構金屬、以及一般制造業(yè)在內的各種工業(yè)領(lǐng)域中都會(huì )用到這兩項檢測。
相控陣技術(shù)還可有效地用于腐蝕測量應用,以縱剖面圖形式表現材料的剩余壁厚。
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
相控陣技術(shù)優(yōu)于常規超聲技術(shù)之處在于它可以使用單個(gè)探頭組合件中的多...
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
超聲相控陣系統可被用于幾乎任何在傳統意義上可以使用常規超聲探傷儀的檢測應用中。焊縫檢測和裂縫探測為兩項*重要的應用,因為在包括航空航天、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應、輸運管線(xiàn)建造與維護、結構金屬、以及一般制造業(yè)在內的各種工業(yè)領(lǐng)域中都會(huì )用到這兩項檢測。
相控陣技術(shù)還可有效地用于腐蝕測量應用,以縱剖面圖形式表現材料的剩余壁厚。
超聲相控陣檢測技術(shù)優(yōu)勢
相控陣技術(shù)優(yōu)于常規超聲技術(shù)之處在于它可以使用單個(gè)探頭組合件中的多個(gè)晶片對聲束進(jìn)行偏轉、聚焦和掃查。利用通常被稱(chēng)為扇形掃查的聲束偏轉,可以適當的角度生成被測工件的映射圖像。
這樣就極大地簡(jiǎn)化了檢測幾何形狀較為復雜的工件的過(guò)程。此外,在檢測空間有限,不能方便進(jìn)行機械掃查的情況下,探頭的狹小底面及其無(wú)需被移動(dòng)即可以不同角度發(fā)射聲束的能力更有助于檢測這類(lèi)形狀復雜的工件。
扇形掃查一般還用于焊縫檢測。使用單個(gè)探頭以多個(gè)角度檢測焊縫的能力極大地提高了探測焊縫異常狀態(tài)的幾率。電子聚焦可在會(huì )出現缺陷的位置處優(yōu)化聲束的形狀和大小,從而可進(jìn)一步提高檢出率。
在多個(gè)深度位置聚焦的能力,還可提高體積檢測中定量關(guān)鍵性缺陷的能力。這種聚焦特點(diǎn)可以顯著(zhù)改進(jìn)挑戰性應用中的信噪比,而且沿多組晶片進(jìn)行的電子掃查還可以迅速生成C掃描圖像。
相控陣系統的潛在弱勢是相對較高的成本,以及對操作人員進(jìn)行培訓的要求。然而,由于相控陣技術(shù)具有較大的靈活性以及在具體檢測中可以節省很多時(shí)間,因此成本較高這個(gè)缺點(diǎn)常常會(huì )得到補償。