測厚儀的知識簡(jiǎn)述

涂層測厚儀及超聲波測厚儀的知識簡(jiǎn)述：

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準

基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

2、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

3、邊緣效應

儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

4、 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

5、試件的變形

測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據。

6、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

7、附著(zhù)物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須**附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

8、 測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

9、測頭的取向

1.測厚儀原理--簡(jiǎn)介

測厚儀，英文名稱(chēng)為thickness gauge ，是一類(lèi)用來(lái)測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度**測量。

接下來(lái)小編為大家介紹幾種常見(jiàn)測厚儀的原理，希望對親們理解測厚儀有一定的幫助!

2.測厚儀原理--激光測厚儀

激光測厚儀：此類(lèi)測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀(guān)察機械制造中零件加工表面的微觀(guān)幾何形狀來(lái)測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量?jì)x器。

3.測厚儀原理--X射線(xiàn)測厚儀

X射線(xiàn)測厚儀：此類(lèi)測厚儀利用的是當X射線(xiàn)穿透被測材料時(shí)，X射線(xiàn)強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計量?jì)x器。

4.測厚儀原理--超聲波測厚儀

超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據超聲波脈沖反射的原理來(lái)對物體厚度進(jìn)行測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測物體到達材料分界面時(shí)，脈沖會(huì )發(fā)生反射而返回探頭，通過(guò)**測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間，來(lái)計算被測材料的厚度。

5.測厚儀原理--涂層測厚儀

涂層測厚儀：主要采用的是電磁感應法來(lái)測量涂層的厚度。涂層測厚儀會(huì )在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，伴隨著(zhù)探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會(huì )發(fā)生不同程度的改變，因此會(huì )引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。